Röntgendiffractie (XRD) is een krachtige analysetechniek voor de identificatie van kristallijne fasen in diverse materialen, waaronder metalen, intermetallische verbindingen, keramische materialen, mineralen, polymeren, en andere anorganische en organische verbindingen. Röntgendiffractie geeft niet enkel informatie over de kristalstructuur, maar ook over andere materiaalkarakteristieken zoals inwendige spanningen, kristallietgrootte, en eventuele voorkeursoriëntatie van de korrels.
De state-of-the-art XRD-apparatuur van CMA² is inzetbaar voor verschillende toepassingen. Een röntgenspiegel die een parallelle röntgenbundel genereert, laat de studie toe van ruwe oppervlakken, en van dunne deklagen.
Ook reflectometrie behoort tot de mogelijkheden, zowel als omega spanningsanalyse met hoge intensiteit en kleine defocus De state-of-the-art XRD-apparatuur van CMA² is inzetbaar voor verschillende toepassingen. Een röntgenspiegel die een parallelle röntgenbundel genereert, laat de studie toe van ruwe oppervlakken, en van dunne deklagen. Ook reflectometrie behoort tot de mogelijkheden, zowel als omega spanningsanalyse met hoge intensiteit en kleine defocus. Psi spanningsmetingen en textuurmetingen kunnen optimaal worden uitgevoerd door de combinatie van een röntgenlens (polycapillair) en een parallelle-plaat-collimator en vlakke monochromator aan de kant van de gediffracteerde bundel. Met een monocapillaire lens kunnen zeer locale metingen worden uitgevoerd met een röntgenspot van 0.1 mm diameter.
Belangrijke toepassingen
• Identificatie van de verschillende kristallijne verbindingen in een vaste stof; zowel in bulkmaterialen als in dunne deklagen.
• Kwantitatieve bepaling van de bijdragen (gewichtsfracties) van de verschillende kristallijne fasen in meerfasige verbindingen, vb. in mineralen, in vast afval, in corrosieproducten.
• Bepaling van de inwendige spanningen in bulkmaterialen en in deklagen.
• Bepaling van de voorkeursoriëntatie, vb. in kristallijne dunne deklagen.
Apparatuur: PHILIPS X’PERT PRO
